TS-900 PXI半导体测试系统是一个集成的测试平台,提供与专有ATE(Automatic Test Equipment的)系统类似的系统特性和功能。TS-900可作为工作台,集成推车或集成操纵器使用,充分利用PXI架构,为器件,SoC和SiP测试应用实现经济高效的全功能测试解决方案。测试系统包含一个定制设计的性能测试接口,支持使用PCB DUT(被测器件)板—一种经过验证的高性能方法,用于与被测器件连接。此外,接收器接口的引脚块是现场可配置的,允许用户在为新应用修改或升级系统时升级接收器。接收机的配置可以支持多达512个动态数字通道,以及一系列模拟,电源和RF资源。
基本系统包括64个数字I/O通道; 64个静态数字I/O通道,可编程用户电源;系统自检和设备; 用于数字波形编辑/显示的DIOEasy软件,ICEasy—器件测试开发工具和Marvin Test Solutions的ATEasy软件,它提供集成和完整的测试执行和测试开发环境,允许用户快速开发和轻松维护测试应用。凭借额外的14个PXI插槽,可根据需要添加更多数字或模拟测试资源,TS-900是半导体OEM,无晶圆厂半导体供应商,进货检测/假冒检测实验室和需要低成本的封装/测试供应商的理想测试解决方案 ,可配置测试系统。